光纤模式测量分析仪STAR-CMC-1550

STAR-CMC-1550光纤模式测量分析仪使用空间和光谱分辨成像(S2)技术来识别少模光纤的传播模式。它由两个不同的单元组成：一个可调谐激光器和一个接收器单元。STAR-CMC-1550 允许获得每种传播模式的差分群延迟 (DGD) 以及与最激发模式相比的相对强度或多径干扰(MPI)。此外，STAR-CMC-1550允许重建被测光纤的导模轮廓和相位。

特点和优势

• 可测量直径高达400um的光纤

• 可测量空芯和实芯少模光纤

• 可重建传播模式剖面和相位

• 可计算高阶模式与最激发模式相比的相对强度

• 可计算传播模式的DGD

测量能力

• 纤维直径：＜400um

• 光纤长度：5～100m

• 测量时间**：＜ 90秒?

• 光纤类型：少模实芯和空芯光纤

• 可分析2000张图像

光学参数

• 测量波长：1480～1630nm

• 波长分辨率：10pm

• 最大DGD：365ps

• DGD分辨率：0.05ps

• 图像传感器：InGaA10.8x12.3mm，512x640像素，20um像素间距

• 曝光范围：0.1ms至20ms曝光时间

• A/D转换：16位

物理参数

• 重量：7kg（可调谐激光）； 8kg（接收单元）

• 尺寸：0.22m  x 0.385m x 0.131m（可调谐激光器）； 0.306mx0.606mx0.145m（接收器单元）

• 工作温度：15-300℃

• 湿度：相对湿度5%-95%，非冷凝

• 计算机要求：所有系统均配备运行最新Windows操作系统的计算机

• 数据接口：1 X USB 3.0（USBA to USBB：提供1m电缆）

STAR-nPA-600光纤折射率分析仪

在几秒钟内即可测量光纤折射率!

STAR-nPA-600 是获取用于验证标准和特种光纤所需的折射率数据的快速、简单且低成本的方法。最少化需要的光纤准备工作，同时干净、高效的图形用户界面允许用户以最少的培训或经验充分表征他们的光纤。STAR-nPA-600 提供准确且可重复的折射率数据，提供有关光纤设计和制造过程的宝贵信息。

STAR-nPA-600 折射率分析仪使用改进的折射近场技术来分析光纤的端视图灰度强度分布，以确定其完整的 2D 折射率分布。使用时无需旋转光纤或扫描光纤端面，并且测量速度非常快，这意味着 STAR-nPA-600 非常适用于生产线、研发实验室或 QA 环境。

特点和优势

• 秒测

• 非？焖俸图虻サ墓庀俗急腹ぷ鳌恍枨懈詈筒迦牍庀

• 高度用户友好的软件

• 可测量直径高达600um的光纤

• 测量非圆形对称纤维——适用PM；八角形，多核

• 可溯源校准

干涉式检测系统仪

干涉检测系统仪(STAR-VFI-xxxx)专门用于检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度。

特点和优势

• 可接收125-1200um直径的光纤

• 500万像素相机提供x6数码变焦

• 支持Arden, Fujikura/AFL, Vytran和Furakawa/FITEL

• 曲率估计的末端角度/半径

• 检查和边缘模式

• 支持扁平和倾斜的末端

• 用户校准设备

应用

• 精密切割机制造

• 切割机维护

• 激光制造

• 医疗器械制造

• 设备尾纤测试

订购须知

可选项

环形通量计

环绕通量现在被广泛接受为IEEE、TIA和IEC指定模态填充的首选方法。FOTP-203中定义了环绕通量的测量——“模式资源管理器”是当今最符合标准的测量系统，已被美国和欧洲的主要标准实验室选择作为其临界测量的基础。其紧凑的尺寸和坚固的设计使其成为电缆制造商，光纤仪器公司和VCSEL，激光和LED光源制造商的首选工具。在每天的工厂使用中，业内的主要参与者都依赖于Modal Explorer。模态资源管理器可用于测量850和1300nm以及其他自定义波长。Modal Explorer使环通量测量简单、准确，符合国际标准。但是，如果您正在为多模系统测量基于激光的透射光源，您可能需要使用测试跳线组件和光纤振动器，以避免“斑点”。行业标准，例如IEEE 802.3aq和FOTP-203，要求使用机械光纤振动器。光纤振动器（MPX-SR3选项）通过改变光纤中模式的差分路径长度来减少斑点。纤维不断摇晃，以使斑点被平均出来。这将确保测量包围通量的足够可重复性。

特点和优势

• 带有焦点指示器的端面检查模式，为操作员提供更好的可重复性

• 电源监视器-同时优化轻吞吐量和模态条件

• 实时测量-轻松调整模态条件并提高生产率

• 具有完全填充发射条件的内部LED

• USB2.0连接提供便携性-可选的手提箱加上笔记本电脑

• 可选的几何校准工件，以实现MPX的用户校准

• 为在生产环境中使用而设计的API软件控制功能

应用

• IEC11801和TIA/EIA568 LAN测试的源和跳线特性

• 千兆以太网IEEE 802.3的VCSEL特性

• 模式扰频器和模式滤波器特性

• 连接器检查测量电源符合IEC 61280-4-1

订购须知

可选项

散斑衰减器（见选项STAR-MPX-SR3）

散斑衰减器MPX-SR3使环形通量的测量变得简单、准确，并且符合国际标准。通过改变光纤中各种模式的差分路径长度来减少散斑，在测量过程中，光纤连续振荡，以使散斑平均化。这将确保环形通量的测量具有足够的可重复性。散斑衰减器MPX-SR3有两个通道。一个通道包含OM1（62.5/125?m分级索引光纤）和另一个OM2（50/125?m分级指数光纤），也可与OM3和OM4光纤一起使用。每个通道都有一个输入和输出端口，标配FC/PC连接器。

典型优势

• 尺寸较小

• 双光纤输入：OM1/OM2或OM3/OM4

• 低噪音

• 重量轻

• 抖动频率为10Hz

光纤和阵列几何测量系统

STAR-FGC-GT和STAR-FGC-GS玻璃光纤几何测量系统

STAR-FGC系列是在生产和研发环境中测量标准和特种光纤尺寸的完整解决方案。STAR-FGC-GT -玻璃光纤几何尺寸，直径可达400um。STAR-FGC-GS -玻璃光纤几何光纤，直径达1000um。暗场照明系统允许软件通过照亮光纤端面和成像反射光来显示光纤端面的清晰实时图像。这允许用户在进行几何测量时检查光纤的端面。光纤几何测量的暗场方法得到了英国NPL和美国NIST的支持。

STAR-FGC附带一个高效的软件包，其中包含在反射和传输模式之间切换的控件。这允许用户快速轻松地进行核心和包层几何测量，包括直径、非循环和同心度。该软件包含所有标准电信光纤的测量模板，但用户也可以创建自己的模板。这允许测量许多特殊光纤类型，包括双包层光纤、弯曲不敏感光纤、多芯光纤等。

特点和优势

• 测量最广泛的光纤尺寸和类型-单单元解决方案意味着更少的工作台空间

• 符合标准-按照国际标准进行校准，确保其准确性

• 生产就绪-可靠、可重复、在几秒钟内可得出结果

• * 重复性是在STAR-FGC-GT上使用一根125um光纤测量的，无需将其从设备上移除，重复性规格仅适用于OM1、OM2和单模光纤。

• ** 重复性是在STAR-FGC-GS上使用一根540/600um光纤测量的，无需将其从设备上移除。

订购须知

STAR-FGC-GA阵列几何测量系统

STAR-FGC-GA是v型槽阵列生产测量和过程控制的最终解决方案。通过一个单元，用户可以测量宽达15mm的多光纤阵列的v型槽块几何形状、芯对芯间距和芯X & Y偏置。STAR-FGC-GA具有1200um可视范围以及用于沿阵列的整个宽度扫描的自动横向工作台，是生产高质量v型槽阵列的最快和最灵活的方式。

特点和优势

• 测量芯到芯间距，x偏置，y偏置和v型槽块几何形状。

• 横向调整阶段和图像拼接测量超过15毫米阵列宽度。

• 灵活的软件可以调整不同的光纤类型(SM, PM, MM)。

• 1200um可视范围可同时测量多达4个核心，减少整体测量时间。

• 可根据客户要求提供自定义数组。

规格

STAR-FGC-P光纤涂层几何系统

STAR-FGC-P光纤涂层几何系统是测量光学参数光纤涂层几何特性的快速、可靠的解决方案。 它可以处理涂层直径从100um到260um的光纤，能够测量外部和内部涂层。它的快速和用户友好性使其非常适合生产和研发环境，保持出色的重复性和可靠性。它使用一种新颖的液体电池设计，允许它重复测量甚至非常薄的光纤，包括极化保持（PM）光纤。被测试的光纤通过360°旋转，并以用户定义的间隔进行测量，以尽量减少由光纤任何不对称引起的任何测量不确定性。在多达36个不同的径向位置测量涂层的能力确保了测量直径、圆度和同心度的最高准确度和可靠性。STAR-FGC-P光纤涂层几何系统完全符合标准，并使用IEC-60793-1-21中描述的侧视图参考测试方法。STAR-FGC-P分析侧视图灰度强度轮廓，使用高速视频和图像处理技术确定涂层和包层边界的位置。被测试的光纤通过360°旋转，并以用户定义的间隔进行测量，以尽量减少由光纤任何不对称引起的任何测量不确定性。

STAR-FGC-P可直接测量光纤涂层几何参数，包括:

• 涂层直径

• 包层不圆度

• 涂层覆层同心度

测量能力

可重复性

光学参数

物理参数

• *分析100条扫描线，平均5幅图像。

• **使用超过12角位置的125/245双丙烯酸酯涂层MM纤维样品测量重复性，无需从FGC-P中取出。

• ***性能规格在22°C下验证。

ODTR发射箱

当使用OTDR测量光纤电缆时，发射箱（也称为死区消除器）有助于最大限度地减少OTDR发射脉冲的影响，从而提高测量的准确性。平博·「pinnacle」的高质量发射箱有三种不同的外壳形式：

1. 坚固的“PELI”盒子版本是密封、防水和异常坚韧的。这些军方批准的箱子等级为IP65，在最恶劣的环境中使用。如果您想为您的铅纤维提供最佳保护，请选择此版本。

2. 铝制“EuroCard”外壳比PELI外壳更小、更轻，为空间有限的工厂或实验室环境提供了理想的解决方案。

3. ABS“Midi”风格的外壳比“Euro”略大，纤维长度更长。

平博·「pinnacle」可以提供一系列不同光纤类型的产品，包括带有“ModCon”模式控制的版本，以使您的OTDR满足IEC 61280-4-1中的包围通量发射条件要求。平博·「pinnacle」所有的盒子都附带完整的测试证书和1年保修（损坏的连接器除外）。平博·「pinnacle」提供标准的产品范围，但平博·「pinnacle」也有能力根据您的精确要求定制解决方案。

特点和优势

• 提高OTDR测量精度

• 提供“ModCon”启动调节，使其符合IEC61280-4-1的EF要求

• 坚固耐用的手提箱，在现场或工厂使用寿命长

• 可选09/125SM, 50/125MM, 62.5/125MM

• 可用自定义配置

• 用户可更换输入和输出引线(需要熔接器)，使用寿命长

• 高质量的组件，如Draka PCVD GIMM光纤

应用

• 现场或工厂OTDR测试

• 从OTDR测量中去除“死区”

• OTDR测量的校准比较

• 长距离系统循环回现场测试传输

规格

型号	“PELI”款	“Midi”款	“EuroCard”款
尺寸	232x192x111mm  9.25x7.75x4.5 in	155x240x35 mm  6.0x9.5x1.45 in	166x105x33 mm  6.5x4.1x1.3 in
重量	1.3kg(3.0 lb)	0.5kg(1.1 lb)	0.5kg(1.1 lb)
工作温度	-40 to +55 C	0 to +40 C	0 to +40 C
典型损耗	＜0.5dB @ 1310nm 采用1km    sm光纤	＜0.5dB @ 1310nm 采用1km    sm光纤	＜1.0dB @ 1310nm with 200m mm fiber
输入输出引线长度	1m	1m	1m
实物图

订购须知

平博·「pinnacle」提供多种标准配置的OTDR发射箱:

“PELI”款中的OTDR引线盒-单模

“MIDI”款中的OTDR引线盒-单模

“PELI”款中的OTDR引线盒-多模

“EuroCard”款中的OTDR引线盒-多模

其他配置亦可定制。

相关光纤光缆

平博·「pinnacle」可以提供广泛的标准线缆，用作光学参数系统测试的启动点。这些线缆拥有最高的公差，为您提供标准且一致的测量数据。

特点和优势

• 创新-不寻常的连接器、光纤和电缆组合

• 可靠- 100%测试插入损耗，回波损失，端面特征和表面光洁度

• 高性能-低插入损耗/高回波损耗/自定义波长

连接头

光纤

电缆

具体数据

IFA-100光纤折射率分析仪

平博·「pinnacle」专注于横向干涉测量法，它是最敏感的光纤测量技术。平博·「pinnacle」独家专利的多波长光纤折射率分析技术最早是在OFC/NFOEC  2009上发布的，并且此后一直成为同行业审查会议和期刊出版的主题。因为测量是横向执行（通过光纤的端口），所以它从本质上是无损检测。虽然光纤的高分子涂层或者缓冲区必须被去除，光纤本身仍然可以继续传输测量中的光信号，同时如果必要的话那些高分子涂层在光纤测量之后可以被完全恢复。

产品特点

• 多波长

• 无劈开要求

• 亚微米空间分辨率

• 适用于任何形式光纤

• 快速测量

• 可测量接头、锥度、耦合器

技术参数